產(chǎn)品名稱：二手ICP-OES光譜儀
產(chǎn)品型號：
更新時間：2020-03-29
產(chǎn)品特點：二手ICP-OES光譜儀：系統(tǒng)能處理難度高的、未經(jīng)稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來全新的性能及靈活性。而且，的性能還帶來了*的易用性。*的硬件特性與業(yè)界直觀易用的軟件相結合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。
產(chǎn)品詳細資料：
二手ICP-OES光譜儀：作為市場上小巧的 ICP，可通過以下性能，提供高效的操作、可靠的數(shù)據(jù)和低的擁有成本：
所有 ICP 中低的氬氣消耗
快的 ICP 啟動（從關機狀態(tài)啟動，光譜儀在短短幾分鐘內(nèi)即可準備就緒）
對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率
具有雙向觀測技術的寬線性范圍
性能可靠、功能強大、經(jīng)濟實惠、具備您所尋求的 ICP所具有的一切。
既然可以成為*，誰還愿意當操作者？
專為滿足挑戰(zhàn)性的客戶需求并超越此類需求而設計，憑借一系列專有*的功能，可幫助您運行多個樣品，所取得的成本效益遠超以往任何時候。
低的運行成本
借助獲得的 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術，僅需消耗其他系統(tǒng)一半的氬氣量，即可生成強健、耐基體的等離子體，同時賦予您：
所有 ICP 中低的操作成本
無需再進行與傳統(tǒng)螺旋負載線圈有關的冷卻和維護，提供出色的運行時間和生產(chǎn)力
另外，為了提高效率，珀金埃爾默儀器具有獲得的動態(tài)波長，穩(wěn)定功能。可令您從關機狀態(tài)啟動，在短短幾分鐘內(nèi)即可進行分析，因而您大可在儀器不使用時隨意關掉。
強大的雙向觀測功能
與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測 ICP 系統(tǒng)不同，系統(tǒng)獲得的雙向觀測功能，可測量所有波長，不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大于 500 納米或低
于 200 納米的元素也*可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 系統(tǒng)*的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態(tài)范圍，確保實現(xiàn)：
樣品制備和稀釋小化
高、低濃度可以在同一運行中進行測量
更好的質(zhì)量控制和更準確的結果
減少重復運行
集成等離子體觀測相機
可簡化您的開發(fā)方法，同時借助 系統(tǒng)的 PlasmaCam™技術，盡享遠程監(jiān)控等離子體的便利。作為行業(yè)，彩色相機
可幫助您：
實時觀測等離子體
執(zhí)行遠程診斷
查看進樣部件
革新性 PlasmaShear 系統(tǒng)，可實現(xiàn)無氬干擾消除
為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 更有效、更可靠或更經(jīng)濟。
其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，系統(tǒng)*的 PlasmaShear™ 技術只需空氣即可。無需高維護、高提取系統(tǒng)或錐體。就是一個*集成的、*自動化的、能提供*軸向分析的干擾消除系統(tǒng)。
CCD 檢測器，可實現(xiàn)的準確度和精密度
借助全波長功能，系統(tǒng)的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。
Avio 系統(tǒng)的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現(xiàn)出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執(zhí)行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。
帶有快速轉換炬管底座的垂直等離子體，可實現(xiàn)的基體靈活性
二手ICP-OES光譜儀即使 正在運行，系統(tǒng)的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調(diào)節(jié)，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設計與眾不同，具有以下特點：
一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管，旨在減少維護和破損的可能性
自動自對準，即使在拆卸后也能提供一致的深度設置
兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性
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