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二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析。可以觀察和檢測非均相有機(jī)、無機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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二手 牛津 EBSD NordlysMax3實(shí)時采集、標(biāo)定和顯示結(jié)果速度高達(dá)1580點(diǎn)/秒 AZtec EBSD提供全面采集性能 同時采集分析EBSD和EDS數(shù)據(jù)，速度不衰減 同時保持高靈敏度和高靈活性 它將成為您電鏡上的一名新成員
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二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應(yīng)用于無機(jī)材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析。
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Hitachi 二手SU5000熱場式場發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學(xué)元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進(jìn)行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。
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Hitachi 二手 SU-5000場發(fā)射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學(xué)系統(tǒng)，具備2.0 nm的二次電子分辨率和強(qiáng)大的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區(qū)分析及材料研究。其“EM Wizard”界面簡化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領(lǐng)域。
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二手 日立 SU-5000 熱場發(fā)射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學(xué)元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進(jìn)行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。
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二手 蔡司 sigma300 場發(fā)射電鏡分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。 Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
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二手電鏡SEM 二手EDX能譜 JSM-IT100 掃描電子顯微鏡/掃描電鏡 是JSM-6010及JSM-6510的升級型號，是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設(shè)計(jì)的InTouchScope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求，JSM-IT100的操作設(shè)計(jì)，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。
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二手 JEOL日本電子 IT-300 掃描電鏡日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。前衛(wèi)性外觀設(shè)計(jì)還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，極為簡化，操作簡單和智能化的一種體驗(yàn)。
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二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡
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