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         二手 日本電子 場發射電鏡SEM+EDX場發射掃描電子顯微鏡（FESEM)的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結構信息。 具有高性能能譜儀，能同時進行樣品表層的微區元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力。

JSM-7610F的光學系統經過改進，實現了分辨率（15kV 0.8nm、1kV 1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，能提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。

此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。主要特點如下：

◇ 半浸沒式物鏡

半浸沒式物鏡在樣品周圍形成強磁場，因而可以獲得超高分辨率。

◇ High Power Optics

High Power Optics 是的電子光學系統，既實現了高倍率觀察又能進行多種分析。

浸沒式肖特基場發射電子槍，可以獲得10 倍于傳統肖特基場發射電子槍（FEG）的探針電流，光闌角控制鏡（ALC）在探針電流增大時也能保持小束斑，兩者組合起來能提供200 nA 以上的探針電流。強大的High Power Optics 系統，從高倍率圖像觀察到EDS分析和EBSD 解析可以一直使用高分辨率的最小物鏡光闌而不需要改換。

浸沒式肖特基場發射電子槍銃   

浸沒式肖特基場發射電子槍通過和低像差聚光鏡組合，可以有效地收集從電子槍內發射的電子。

光闌角控制鏡（ACL）

光闌角控制鏡（ACL）配置在物鏡的上方，在整個探針電流范圍內自動優化物鏡光闌的角度。因此，即使照射樣品的探針電流很大，與傳統方式相比，也能獲得很小的電子束斑。

即使探針電流很大，束斑直徑也很小

長時間分析時穩定度也很高

◇ 柔和電子束（GB:GENTLEBEAMTM）模式

GB 模式的效果

GB 模式在低電壓下提高分辨率

左圖一般模式，右圖GB模式

增強了的低加速電壓下的分辨率

◇ r-過濾器

◇ LABE檢測器（選配件）

利用LABE 檢測器獲取低角度背散射電子像

◇ 擴展性

能譜儀（EDS）

波譜儀（WDS）

陰極熒光系統（CL）

二手 日本電子 場發射電鏡SEM+EDX本公司售后服務保障

1、零配件庫存充足，對業務所及的儀器90%常見的故障準備了庫存配件，同時和廠家保持良好的合作的關系，零配件有充分的保障。

2、我們全力打造“快而靈活"的專業服務。到目前為止所有現場服務需求，我們都能夠4小時內線上響應， 48小時內到達現場。

3、利用現代信息技術，我們為每一位客戶提供互聯網在線支持，遠程快速診斷及排除故障，大大縮短儀器停機時間，提高客戶的工作效率。對路途遠及初期客戶對儀器不熟悉是一個特別有力的支持。

4、不斷完善的服務體系。每一次服務都能做到規范化，可跟蹤及持續性，符合各行業的法規要求。

5、專業的服務團隊，工程師均是原廠工程師或經原廠工程師專業培訓過的，通過考核后方可上崗為客戶提供服務。